ICT在線測試儀名詞表述

自ICT投入市場以來，在日常工作上出現了許多名詞，但是用戶在行業相關名詞應用上發生分歧產生誤解。為了能協同配合，提高使用效率，我們將要將這些名詞語匯不斷地梳理、升級

◇能測率：

可測試元器件數與元器件數量的比例。例如：一片ＰＣＢＡ有１００顆元器件，可檢測元器件值為９６顆，那樣能測率是９６％。那樣，此外４％的元器件不可測要素如下所示：

A，檢測儀限制。市面上檢測設備種類煩多，選擇一款適宜自己商品ICT是很重要的。

B，電路設計圖設計?；驹碓O計里受電氣特性產生的影響，如小電容100PF與大電容10UF并接，那樣100PF不可測。

C，PCB板設計方案。需考慮可擴展性設計方案，如果沒有測試用例之NET可提高TestPoint，對能測率大幅提高。

D，測試治具性能。一臺生產設計科學合理的ICT針床對能測率、直通率、合格率提高。

◇植針率：

夾具的植針率在改善ICT能測率層面是很重要的！植針率對測驗PCB設計，也有夾具的結構是密切相關的。要改進夾具植針率，對掌握測驗PCB設計標準是很有必要的。

制做優等測試治具前提條件基本原則如下所示：

1，正常情況下每一條互聯網須植一根針

2，在SMT解決測試植針率與DIP解決的測試植針率是不一樣的，探頭頭不可以一樣。

3，一般探頭是50mil限制。

4，夾具只有兩面植針觸碰PCBA。

5，可以用探頭植針的是：TestPoint、DIP元器件腳、VIA孔、DIP埋孔、檢測焊層PAD（提議不用以植針）

◇直通率

PCBA大批量生產時，測試通過的合格率。

◇合格率：

PCBA大批量生產時，測試通過的合格率與重測后得出來的合格率。危害合格率的層面有很多種狀況，如：制造欠佳（助焊膏太多附著于測試用例上，使探頭沒法透過）；ICT針床加工藝欠佳（如植針有誤而引起欠佳）